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4Hz~5MHz阻抗分析仪

4Hz~5MHz阻抗分析仪

更新时间:2020-09-15

产品型号:IM3570

产品报价:

产品特点:阻抗分析仪IM3570是一款4Hz~5MHz阻抗分析仪。IM3570测量频率4Hz~5MHz,测试电平5mV~5V的LCR电桥与阻抗分析仪合二一的仪器。可以用交流信号测量LCR、直流信号测量电阻(DCR)、测量频率和电平能连续和变化的情况下进行扫描测量等。因为能够在不同测量条件和测量模式下进行连续和高速的测量,仅用一台IM3570就能取代现在用在生产线上的众多仪器。

IM35704Hz~5MHz阻抗分析仪的详细资料:

日置电机株式会社(HIOKI)自1935年创立以来,经过不断的发展壮大,现已确立了在先进的测试测量工艺技术研发及制造领域的国际性重要地位,并于2003年12月在东京证券第一部上市。主要从事电气测量仪的研究开发,制造,销售以及标准,售后服务等。近年进一步实现了技术,制造,销售一体化体系,并开发了光,通信,环境测量等新领域。HIOKI的目标是,在保护自然环境的前提下,促进社会的发展,成为值得信赖的企业。

阻抗分析仪IM3570是一款4Hz~5MHz阻抗分析仪一台仪器实现连续测量和高速检测。IM3570测量频率4Hz~5MHz,测试电平5mV~5V的LCR电桥与阻抗分析仪合二一的仪器。可以用交流信号测量LCR、直流信号测量电阻(DCR)、测量频率和电平能连续和变化的情况下进行扫描测量等。因为能够在不同测量条件和测量模式下进行连续和高速的测量,仅用一台IM3570就能取代现在用在生产线上的众多仪器。

特点:

● 低电容(高阻抗)测量,提高稳定性

和HIOKI以往的产品相比,将测量低电容(高阻抗)时的重复精度提高了一位。

例如:1pF(1MHz,1V)的条件下,测量速度SLOW2的话,重复精度(偏差)*可达0.01%,实现稳定测量。同时,因为也提高了相位的重复精度,所以提高了低电容(高阻抗)测量时的D测量的稳定性)

● 广范围的测量频率

IM3570可在DC和4Hz~5MHz的范围内以5为分辨率(1kHz以下为0.01Hz分辨率)设置频带。可进行共振频率测量和接近工作条件状态下的测量和评估。

● 15种参数测量

可测量Z、Y、θ、Rs(ESR)、Rp、Rdc(直流电阻)、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、D(tanδ)、Q的参数,还可以将需要的参数读取至计算机中

● 具备接触检查功能(开路检查)

按照4端子测量(仅低阻抗高精度模式时),2端子测量的接触检查功能,可以防止测试端子未接触被测物时进行误测。

● 比较器

LCR模式下,可在1个画面中从测量项目里判定2种参数的Hi/IN/Lo。判定方法除了绝对值设定以外,还有%设定、Δ%设定。使用连续测量,可判定多个测量条件·测量项目。

● BIN测量

可对2个项目进行10个分类和范围外的分类。

● 分区设置

扫频范围可通过设定最多测试801个频点,分成20个频率区间。可以详细评估在多个频率区间内的特性。

● 广范围的测量电压/电流

除了可以设定一般的开环信号,还能设定恒压/恒流模式。可设定的测量电平信号,从5mV~5V/10μA~50mA(~1MHz)。(根据频率、测量模式不同,测量信号电平的设置范围也不同。)

● 内部可发生DC偏置电压

只需主机即可施加最大2.5V的DC偏置电压进行测量。可放心对钽电容等极性电容器进行测量。充电阻抗为100Ω。

●高分辨率,最大7位显示

可进行最多7位显示的高分辨率测量。可设置3 ~7位的显示位数

● DC~5MHz可使用4端子探头

4端子探头L2000(选件)采用匹配50Ω特性阻抗和提高测量精度的4端子构造,适合于IM3570的探头。 

● 测试线最长可达4m

4端子的构造降低了测试线的影响,测量线长0、1、2、4m时,保证测试精度。自动设备的排线方便简单。(根据线长的不同,精度保证的频率范围也不同。) 

● 长时间稳定性的提高

保证1年的测量精度。与以往产品每6个月需要校准相比,校准周期延长至1年

● 间隔测量

例如,想确认传感器在随时间变化的参数特性,可以通过设定测试间隔时间(100μs~10000s),最多测试801个时间点,并且可以进行图形或列表显示。

● 触摸屏操作简单易懂

延续以往产品的特点,采用触摸式显示屏,操作简单易懂。而且,彩色液晶显示屏清晰直观的操作性,帮助用户提高工作效率、

4Hz~5MHz阻抗分析仪 IM3570优点

● 1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查
● LCR模式下可达1.5ms1kHz),0.5ms100kHz)的高速测量
基本精度±0.08%的高精度测量
适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量,电感器(线圈、变压器)的DCRL-Q的测量
分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量
可以用于无线充电评价系统TS2400

 

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