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NF恩乃普ZM2371/ZM2371/ZM2376LCR测试仪

NF恩乃普ZM2371/ZM2371/ZM2376LCR测试仪

更新时间:2022-02-15

产品型号:

产品报价:

产品特点:NF恩乃普ZM2371/ZM2371/ZM2376LCR测试仪测量范围覆盖从1mHz低频领域到5.5Hz高频领域,实现了快速且偏差小的稳定测量,可对应从材料研究到零部件生产线等的各种用途。

NF恩乃普ZM2371/ZM2371/ZM2376LCR测试仪的详细资料:

NF公司创建于1959年,根据“凡是社会需要的, 就是我们要创造的新产品"的理念,积极探索尚未被人们了解的新领域, 不断创新并提供自有研发产品, 为新一代的产品开发和社会发展做出了贡献。 NF的创新技术涉及到极其广阔的领域, 包括汽车和数字家电等前沿电子技术、 燃料电池和太阳能发电等清洁能源技术、 纳米技术、 以及人造卫星和火箭等宇航技术。


NF恩乃普ZM2371/ZM2371/ZM2376LCR测试仪测量范围覆盖从1mHz低频领域到5.5Hz高频领域,实现了快速且偏差小的稳定测量,可对应从材料研究到零部件生产线等的各种用途。

 

型号 品名
ZM2371 基本精度 0.08%,频率范围 1mHz~100kHz , 测量速度 最快2ms
ZM2372 本精度 0.08%,频率范围 1mHz~100kHz , 测量速度 最快2ms,
4端子的接触检查功能,处理机接口
ZM2376 基本精度 0.08%,频率范围 1mHz~5.5MHz , 测量速度 最快2ms,
接触检查、低容量检查

 


 

产品特点

● 宽频测量范围和高分辨率设定

ZM2371与ZM2372覆盖了从1 mHz到100 kHz的测量频率范围,并拥有5位数的分辨率。ZM2376则覆盖了从1 mHz到5.5 MHz的测量频率范围,并拥有6位数的分辨率。该产品不但适用于一般电子产品的测量,还可以被应用于电池或其他材料的阻抗特性评估。


● 高重复性的测量结果

该产品的测试结果为在同样的测试条件下,对相同的测试对象测试200次的结果。ZM2372的测试结果偏差大概在0.01%以下,而ZM2376则更加优秀。高重复性的测量结果,对于阻抗测量仪来说是十分重要的。


● 测量1 nF的电容

测量条件 (时间: 5 ms, 频率: 100 kHz, 信号水平: 1 V)
200次测量结果的偏差

 

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● 针对放电的保护功能

在使用通用的测量仪器时,储存了电荷的电解电容器一旦被连接则会出现放电,而输入电路就很可能会被损坏。ZM系列针对放电的保护功能,可以保护输入电路不被此能量(最高达4J)损坏。所以在测量中若不小心连接上储存了电荷的部件后,可以防止事故的发生。


● 广域的测量电平和ALC功能

对10mVrms~5Vrms/1μArms~200mArms的测量信号电平可进行3位数分辨率的设置。另外,利用ALC(自动电平控制)功能可以设置定电压/定电流驱动,因此可用考虑到试样电压/电流依赖性的稳定驱动信号来驱动,可实现高再现性的测量。


● 快速测量

测量时间可以在RAP(Rapid),FAST,MED(Medium),SLOW,VSLO(Very Slow)这5种等级切换。选择RAP,可以实现2ms(1kHz/1MHz)、10ms(120Hz)的快速测量。快速、高精度的LCR测量仪有助于提高生产线及自动检查装置的测量效率。


● 高精度

实现了基本精度0.08%、显示分辨率最多6位数的高精度测量。值得信赖的测量在从最先端器件的开发到检查线零部件分选,对提高产品性能和品质*的。


● DC偏置电压

ZM2371与ZM2372的内置DC偏置电源为0~+2.5 V,ZM2376为0~+5 V。这一功能使得测量电解电容等具有极性元件成为了可能。使用ZM2376,可以以将电池的直流电压相抵消的方式,测量阻抗。

另外,针对更大的DC电压,还可以选购DC偏置适配器。使用外接DC电源,最高达±40 V的DC偏置电压可以被施加到被测物体上,所以还可以测量大容量片式多层陶瓷电容的依赖性等。


● 直流电阻(DCR)测量

可测量线圈及变压器的卷线电阻的直流电阻。可以同时在主参数中显示电感,在副参数中显示直流电阻的测量值。


NF恩乃普ZM2371/ZM2371/ZM2376LCR测试仪产品规格

 

项目 ZM2371 ZM2372 ZM2376
测量参数 主参数:|Z|、|Y|、 L、 C、 R、 G
副参数: Q、 D、 θ、 X、 B、 Rs、 Rp、 G、 Lp、 Rdc
测量频率 1 mHz~100 kHz 1 mHz~5.5 MHz
基本精度 0.08 %
测量信号电平 10mVrms~5Vrms、1μArms~200mArms
内部DC偏置 0~+2.5V 0~+5V
测量时间 1kHz 最快2ms
1MHz 最快2ms
定电压/定电流驱动(ALC)
接触检测 ○(4端子)
低电容检测
比较器 ○(9分类) ○(14分类) ○(14分类)
复合测量 ○(32步骤)
处理器接口

 

本文来源于日本NF株式会社

 

 

 



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