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1MHz~600MHz阻抗分析仪
更新时间：2023-02-17
产品型号：IM7583
产品报价：
产品特点：HIOKI 1MHz~600MHz阻抗分析仪IM7583,基本参数：测量频率 1 MHz～600 MHz测量范围 L： 0.0265 nH～0.795 mH C： 0.0531 pF～1.59 F (根据测量频率而定)测量信号电平 -40.0 dBm～+1.0 dBm基本精度 Z：0.65% rdg. θ: 0.38°
IM75831MHz~600MHz阻抗分析仪的详细资料：
产品特征
HIOKI 1MHz~600MHz阻抗分析仪IM7583,基本参数：
测量频率 1 MHz～600 MHz
测量范围 L： 0.0265 nH～0.795 mH
C： 0.0531 pF～1.59 F
(根据测量频率而定)
测量信号电平 -40.0 dBm～+1.0 dBm
基本精度 Z：0.65% rdg. θ: 0.38°
产品功能
HIOKI 1MHz~600MHz阻抗分析仪IM7583特点：
为了保证正确并可靠的测量，搭载了多种功能：
补偿功能—为了测量的准确性，建议在测量前进行补偿。
开路/短路/Load补偿
进行从阻抗分析仪主机到标准面(测试头端子或样品连接端子任一)的
校正。
连接开路、短路、load3种补偿治具，测量各自的补偿数据并去除误差因素
电气长度补偿
以数值输入从标准面的测试样品接触面为止的电气长度，补偿相移导致的误差。测试头上安装治具时，需要输入治具的电气长度。
开路/短路补偿
去除从校正标准面到样品的连接端子为止的误差因素(治具或测试线等）
接触检查-检查测量端子和被测元件的接触状态。
Hi-Z筛选功能 根据测量结果判定接触状态
开启该功能后，当测得的阻抗值大于设定的标准值时，测量端子的接触状态会被判定为错误，并输出错误提示。
开启该功能后，当测得的阻抗值大于设定的标准值时，测量端子的接触状态会被判定为错误，并输出错误提示。
DCR测量 确认测试前后的接触状态
适用于电感、磁珠、共模滤波器等的直流电阻值和低电感性元件的接触检查。
设置接触电阻值的上下限并以此进行判定
波形判定功能 测量中的波形变动检测
测量过程中，确认元件和端子是否处于接触状态。以读取的有效值波形为标准，当有效值的变动超出预设范围时，输出错误提示。
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