电磁干扰发射探头组

更新时间：2024-03-29

产品型号：P603-1 / P750 set

产品报价：

产品特点：电磁干扰发射探头组P603-1 / P750 set,基于IEC61967-4标准的传导发射测量,该探头套组用于测量IC引脚的传导发射（采用1欧姆/150欧姆直接耦合进行测量）。

P603-1 / P750 set电磁干扰发射探头组的详细资料：

电磁干扰发射探头组P603-1 / P750 set,它基于IEC61967-4标准，分别有一个用于测试电流和电压的探头。该探头能够接触到测试IC的每个引脚。该探头套组能够确保较高的测量重复精度和测量的可比较性。使用朗格尔电磁兼容技术公司的ICE1集成电路IC测试环境，可以对待测集成电路进行测试。芯片扫描ChipScan-ESA 软件系统可以控制测量过程，并对所有引脚的测量数据进行存储以及快速系统地分析比较。

电磁干扰发射探头组P603-1 / P750 set产品清单：
1xP603-1, 1Ω高频电流表 SMA
1xP750, 150Ω高频电压表
1xCS-ESA, ESA芯片扫描软件
1xSMA-SMB 1 m, SMA-SMB 测量电缆
1xP603 / P750 case, System case
1xP603-1 / P750 m, SMA

P603-1 1Ω高频电流表 SMA
P603-1探头属于1Ω探头用于直接测量集成电路引脚上的高频（RF）电流，主要用于接地引脚（Vss）和信号引脚的测量。1Ω 高频电流计拥有针脚触点，可以接触到并对集成电路的每个引脚进行测量。

P750 150Ω高频电压表
P750 高频电压表带有150Ω的耦合电路，它根据IEC 61967-4测量集成电路引脚的高频电压。P750探头具备高阻抗的电容耦合输入，因此能够测量受测物上不同引脚的射频电压。