LANGER EMV-Technik SX近场探头组专门为近场测试设计的探头，电磁兼容工程师*的基本工具，用于在产品开发期间探测PCB的电磁场情况

电磁干扰发射探头P600 / P750 set 的测量结果保证了测量结果的高重复性和可比性。可以使用ChipScan-ESA软件进行测量。所有被测引脚的测量结果通过软件保存。它允许系统地和快速地比较和分析测量数据。

电磁干扰发射探头S603 / S750 set 的测量结果保证了测量结果的高重复性和可比性。可以使用ChipScan-ESA软件进行测量。所有被测引脚的测量结果通过软件保存。它允许系统地和快速地比较和分析测量数据。

电磁干扰发射探头组P603 / P750 set ，该探头组能够接触到测试IC的每个引脚。 该探头套组能够确保较高的测量重复精度和测量的可比较性。

电磁干扰发射探头组P603-1 / P750 set,基于IEC61967-4标准的传导发射测量,该探头套组用于测量IC引脚的传导发射（采用1欧姆/150欧姆直接耦合进行测量）。