LANGER EMV-Technik SX近场探头组 信号分析仪

LANGER EMV-Technik SX近场探头组包含2个无源近场探头，用于在研发阶段以高时钟频率测量电子模块上的电场和磁场，频率范围为1GHz到10GHz。SX探头组的探头可以紧贴电子模块进行测量，比如贴近单个集成电路引脚、导线、元件及其连接点，从而定位干扰信号源。通过相应地操作近场探头，能够测量出电子模块上电磁场的方向及其分布。这种近场探头小巧轻便，并具备外皮电流衰减和电屏蔽。 这种近场探头可以接到频谱分析仪或示波器的50Ω输入端。探头内部有一个终端电阻。

LANGER EMV-Technik SX近场探头组产品内容：

1xSX-E 03, 电场探头（1GHz-10GHz）

1xSX-R 3-1, 磁场探头（1GHz-10GHz）

1xSMA-SMA 1 m, SMA-SMA 测量电缆

1xCase 4

LANGER EMV-Technik SX近场探头组技术参数

频率范围:1 GHz - 10 GHz

接口类型：SMA, female, jack

重量：200 g

LANGER EMV-Technik SX近场探头组产品简介：

SX-E 03型探头底部的电极尺寸约为4x4mm，用于检测定位很小的电场源，例如导线、集成电路板上的单个元器件。

SX-R 3-1型磁场探头尺寸小，用于高分辨率测量高频磁场，因而能够识别出作为潜在干扰源的小元件。此外，由于探头尺寸小，适于测量很难靠近的位置，例如集成电路引脚的周围区域。