电磁干扰发射探头组

电磁干扰发射探头组P603 / P750 set该探头组能够接触到测试IC的每个引脚。 该探头套组能够确保较高的测量重复精度和测量的可比较性。 使用朗格尔电磁兼容技术公司的ICE1集成电路IC测试环境，可以对待测集成电路进行测试。芯片扫描ChipScan-ESA 软件系统可以控制测量过程，并对所有引脚的测量数据进行存储以及快速系统地分析比较。

电磁干扰发射探头组P603 / P750 set产品清单

• 1xP603, 1Ω高频电流表
• 1xP750, 150Ω高频电压表
• 1xCS-ESA, ESA芯片扫描软件
• 1xSMA-SMB 1 m, SMA-SMB 测量电缆
• 1xP603 / P750 case, System case
• 1xP603 / P750 m

P603 1Ω高频电流表
P603是1Ω探头，用于直接测量集成电路引脚上的高频电流。测量时，把它接到电源引脚（Vdd/Vss）或信号引脚上。1Ω高频电流表拥有针脚触点，借此可以接触到并对单个的引脚并进行测量。

技术参数

P750 150Ω高频电压表
P750 高频电压表带有150Ω的耦合电路，它根据IEC 61967-4测量集成电路引脚的高频电压。P750探头具备高阻抗的电容耦合输入，因此能够测量受测物上不同引脚的射频电压。

 技术参数

CS-ESA ESA芯片扫描软件
ESA芯片扫描软件用于遥控频谱分析仪，存储并记录测量曲线。这些曲线可以任意的相互或者与校正曲线、与频率相关的曲线和曲线常数换算。