1MHz~1.3GHz阻抗分析仪IM7585主要参数：测量频率 1 MHz～1.3 GHz测量范围 L：0.0123 nH～0.795 mH C： 0.0245 pF～1.59 F (根据测量频率而定)测量信号电平 -40.0 dBm～+1.0 dBm基本精度 Z：0.65% rdg. θ: 0.38°

* IM7587 1MHZ~3GHz 阻抗分析仪测试频率：1MHz~3GHz测量时间：可达0.5ms测量值偏差：0.07%（用3GHz测量线圈1nH时）基本精度：±0.65%rdg紧凑机身仅有半机架尺寸，测试头仅有手掌大小丰富的接触检查（DCR测量.Hi-Z筛选.波形判定）分析模式下可进行测量频率.测量信号电平扫描测量

* 1MHz~600MHz阻抗分析仪IM7583,基本参数：测量频率 1 MHz～600 MHz测量范围 L： 0.0265 nH～0.795 mH C： 0.0531 pF～1.59 F (根据测量频率而定)测量信号电平 -40.0 dBm～+1.0 dBm基本精度 Z：0.65% rdg. θ: 0.38°

NF恩乃普ZGA5920阻抗增益相位解析仪评价各种电子材料、电子零部件、电路特性的综合解析装置。另配备了与外部装置连接及远程控制、提供测量辅助信息等功能。

NF恩乃普ZA57630阻抗分析仪从电子零件、半导体器件到材料的特性评价，应对多样的阻抗测量需求。频率范围10µHz～36MHz，阻抗范围10µΩ～100GΩ (模式: IMPD-EXT)。