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LVS-500系列低压浪涌测试仪

LVS-500系列低压浪涌测试仪

更新时间:2025-11-06

产品型号:

产品报价:

产品特点:LVS-500系列低压浪涌测试仪,输出波形符合IEC 61000-4-5标准以及GR-1089-CORE和C62.45-2002 IEEE标准中描述的浪涌波形,旨在测试设备在晶圆和封装级别上的浪涌抗扰性。通过脉冲发生器,可以轻松确定浪涌应力下的EOS故障阈值。

LVS-500系列低压浪涌测试仪的详细资料:

ESDEMC Technology LLC 由 Wei Huang 于 2011 年 3 月在美国密苏里州罗拉创立。ESDEMC 开发 ESD 和 EMC 解决方案。公司致力于提供创新、先进、高质量和具有成本效益的解决方案以及一般咨询、测试服务和定制项目。产品包括充电设备模型 (CDM) 系统、电缆放电事件 (CDE) 系统、ESD 模拟器、脉冲衰减器、电流探头、用于射频发射/免疫的 TEM 电池、高压直流电源、定制的高压/射频设计。ESDEMC Technology 自 2012 年以来一直是 ESD 协会的企业会员。


LVS-500系列低压浪涌测试仪输出波形符合IEC 61000-4-5标准以及GR-1089-CORE和C62.45-2002 IEEE标准中描述的浪涌波形,旨在测试设备在晶圆和封装级别上的浪涌抗扰性。通过脉冲发生器,可以轻松确定浪涌应力下的EOS故障阈值。


脉冲源设计和脉冲源传输方法确保波形性能直接作用于被测试设备,而不是在发生器输出端。可以捕捉并分析每个浪涌事件的电流波形,自动化的脉冲故障测量设置也可帮助完成此过程。此外,还可以捕捉电压波形,并用于确定保护结构的开通电平。这些电压波形还可以作为故障判定的依据,因为漏电特性在脉冲事件后会发生变化。


产品特点

● 波形从最小值到最大值干净且线性


● 隔离的浪涌脉冲电路


● 软件控制自动测量


● 自动故障检测,包括直流点检和静态IV测试


产品应用

● 测试电源、驱动PCB、通信系统、LCD显示面板的浪涌脉冲抗干扰性,符合8/20μs和10/1000μs规范


● 测试晶圆、封装和PCB的浪涌/静电放电(ESD)抗干扰性


LVS-500系列低压浪涌测试仪产品规格


参数LVS-500LVS-1000LVS-1500LVS-2000LVS-500LVS-1000LVS-1500LVS-2000单位

-8/20-10/1000
输出电压@开路负载1-5001-10001-15001-20001-5001-10001-15001-2000V
输出电流@开路负载0.5-2500.5-5000.5-7500.5-10000.1-500.1-1000.1-1500.1-200A
输出精度± 5 % ± 0.1 V
输出电阻2 ± 5%
10 ± 10%Ω
短路电流前沿时间
8 ± 30%10 (+0, -5)μs
短路电流半峰值时间20 ± 20%1000 ± 20%μs
开路电压前沿时间1.2 ± 30%10 (+0, -5)μs
开路电压分峰值时间
50 ± 20%1000 (+1000, -0)μs
尺寸347 X 300 X 145
重量5681056810kg








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