ES650自动化探针系统是一种2针探测解决方案，适用于封装级、晶圆级和电路板级器件上的HBM、MM、TLP、HMM、CC-TLP、LI-CCDM、RP-CCDM和CDM（JS-002）测量的自动化探针台。

LVS-500系列低压浪涌测试仪，输出波形符合IEC 61000-4-5标准以及GR-1089-CORE和C62.45-2002 IEEE标准中描述的浪涌波形，旨在测试设备在晶圆和封装级别上的浪涌抗扰性。通过脉冲发生器，可以轻松确定浪涌应力下的EOS故障阈值。

EOS-500过电应力模拟发生器是一款50欧姆输出阻抗脉冲发生器，用于一般EOS测试，脉冲宽度可在ns至ms范围内调节。

TLP-1000A系列传输线脉冲发生器是独立TLP脉冲设计，可以产生直接TLP脉冲、E场和H场并将其注入被测器件（DUT）。该发生器设计用于施加高达5kV（50欧姆负载）的高质量矩形脉冲。5英寸彩色IPS触摸屏和USB端口可以轻松远程控制电压极性、振幅和脉冲速率。可定制的脉冲宽度和上升时间以及可变测量附件使发电机功能可扩展。

ES660 ESD静电放电和闩锁测试系统是一款先进的多针自动测试设备。针对现代半导体测试的严苛要求而设计。产品的测试能力保障大规模器件的高效评估，显著缩短测试时间并提升生产效率。