您好,欢迎进入上海正衡电子科技有限公司网站!
一键分享网站到:
产品列表

PROUCTS LIST

技术文章Article 当前位置:首页 > 技术文章 > 瞬态抗扰度测试对技术范围的要求,要符合哪些性能指标

瞬态抗扰度测试对技术范围的要求,要符合哪些性能指标

点击次数:1726 更新时间:2018-11-28
  瞬态抗扰度测试对技术范围的要求,要符合哪些性能指标
  
  瞬态抗扰度测试抗扰度测试常见的试验结果说明
  
  对不同试验结果,可以根据该产品的工作条件和功能规范按以下内容分类:
  
  A:技术要求范围内的性能正常;
  
  B:功能暂时降低或丧失,但可自行恢复性能;
  
  C:功能暂时降低或丧失,要求操作人员干预或系统复位;
  
  D:由于设备(元件)或软件的损坏或数据的丧失,而造成不可恢复的功能降低或丧失。
  
  符合A的产品,试验结果判合格。这意味着产品在整个试验过程功能正常,性能指标符合技术要求。
  
  符合B的产品,试验结果应视其产品标准、产品使用说明书或者试验大纲的规定,当认为某些影响不重要时,可以判为合格。
  
  符合C的产品,试验结果除了特殊情况并且不会造成危害以外,多数判为不合格。
  
  符合D的产品判别为不合格。
  
  符合B和C的产品试验报告中应写明B类或C类评判依据。符合B类应记录其丧失功能的时间。
  
  ISO7637瞬态抗扰度测试系统KES7000特长
  
  *符合ISO7637-2.2004、ISO7637-3.2007的要求。
  
  备有用于生成Pulse5b的负载衰减抑制器。Pulse可采用放大电路模式执行输出,并可通过使用生成Pulse5b的负载衰减抑制器满足ISO7637标准的要求。
  
  采用单元结构实现了机身紧凑的框体外形设计。
  
  CDN备有60V/50A和60V/100A二种类型。
  
  可利用软件(日文版)执行条件的设定和测试仪的控制。
  
  备有选购件JASD001-94组件。
  
  其他有关各家汽车制造厂的规格标准,请另行予以商洽。

上海正衡电子科技有限公司(www.shzhest.com)主营产品:PCB近场扫描仪,IC高频近场扫描仪,射频录制回放仪

总流量:248207  管理登陆  技术支持:仪表网  GoogleSitemap

版权所有 © 2024 上海正衡电子科技有限公司  ICP备案号:沪ICP备14013120号-3