菊水产品在半导体行业的应用

半导体在各行业上的应用

半导体行业应用案例

1. 功率半导体

IGBT（Insulated Gate Bipolar Transistor）

电压规格：600V/1000~3000V

MOSFET（Metal-Oxide Silicon Field-Effect Transmitter）

电压规格：12~300V

高功率大功率开关电源PAT-T系列1000V、1500V机型可对应功率半导体的高电压大电流化。随着太阳光面板的高电压化以及电动汽车的普及，充电器马达以及各种逆变器所使用的半导体也渐渐向高电压、大电流化发展。

使用目的

· 产业机器

· 空调逆变器

· 光伏发电逆变器

· 电动汽车（EV）逆变器 etc...

测试内容

· 信赖性评估

· 产品检查、良否判定

· C-V测试

· I-V测试

· 高压破坏、放电测试

· 半导体接点温度特性评估

· Electromigration

IGBT的Tf（fall time）测试案例

Vce=600V、Ic=30A

Tf为Ic=27A（90%）~3A（10%）的时间

采用直流电源PWX与高速双极电源PBZ进行测试。

Power MOSFET测试案例

Power MOSFET的使用电流至几百A，自身的发热是十分重要的参数。施加100us的脉冲对发热的影响进行测试。测试系统上采用直流电源PWX与高速双极电源PBZ。

PID测试

薄型宽量程可变开关型电源PWX系列可进行高速通信（LAN），从而可以实现功率半导体评估测试中的PID测试。

重点：对半导体进行老化测试。测定车载半导体的温度，并用时序创作软件重现其温度特性进行老化测试。通过控制半导体的电流来实现实车半导体的温度变化，要求直流电源可以进行外部的高速控制。由此菊水的直流电源PWX系列可满足此要求。

半导体接点温度特性评估

重点：由于温度上升速度快，需要高速的外部控制（如LAN接口）。

过渡热测试

重点：半导体的过渡热测试是通过大电流高速上升测试半导体内部的温度变化。使几百A~千几百A的电流在几ms内上升。如果使用PAT-T系列单体，在几ms之内可到达。如果使用与PLZ-5W系列并用，上升速度将更快。

2. IC

GaAsIC：Galium Arsenide Integrated Circuit

MMIC：Monolithic Microwave Integrated Circuit

LSI：Large Scale Integration

使用目的

· 手机

· 通信机器半导体元器件

· 无线LAN

· PC

· GPS etc

测试内容

· 电流脉冲

· 电源过电压法

· 电压脉冲

· ESD脉冲（Electro-Static Discharge）

电源过电压法

重点：

· DC电源需要低纹波、线性电源较多被采用

· 电子负载装置需要满足高速响应

电压脉冲法

重点：PBZ由于低纹波并且可以输出高速、高频率波形，因此被广泛采用。

薄型宽量程可变开关型电源

PWX系列

· 采用高度为1U的薄型、轻量设计，提高了机柜装配效率

· 输出范围大，能够组合电压/电流设定的功率型产品（3倍）

· 配备功率因数改善电路：0.99（100V输入时）、0.97（200V输入时）

*TYP值

· 标准配备LAN、USB、RS232C通讯接口

· 单控并联运行功能（相同机型Max4台）

· 简单串联运行（相同机型2台）

*PWX750HF、PWX1500H除外

本文来源于KIKUSUI菊水

产品详情FPWX系列机架安装直流电源

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